ห้องทดสอบการเสื่อมสภาพแบบเร่งแรงดันสูง HAST: ใช้เพื่อประเมินความต้านทานต่อสิ่งแวดล้อมของชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ PCB ผลิตภัณฑ์ชิป ฯลฯ ภายใต้อุณหภูมิสูง ความชื้นสูง และสภาวะความดันสูง ด้วยการเร่งกระบวนการล้มเหลวปัจจัยการเร่งความเร็วจะอยู่ระหว่างหลายสิบถึงหลายร้อยเท่า การทดสอบความน่าเชื่อถือของการจําลองแบบเร่งรัดประเภทนี้สะดวกในการกําหนดสภาพการทํางานที่รุนแรงของผลิตภัณฑ์หรืออุปกรณ์ทําให้ง่ายต่อการค้นหาโหมดความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ล่วงหน้าและลดระยะเวลาการทดสอบอายุการใช้งานของผลิตภัณฑ์หรือระบบจึงมีเวลาในการตรวจสอบการผลิตจํานวนมาก
พื้นที่ใช้งาน:
แผงวงจรพิมพ์, ชิปเซมิคอนดักเตอร์, ยางซิลิโคน, เซรามิก, วัสดุโพลีเมอร์...
มาตรฐานการทดสอบ:
อีซี Q101
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997 การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อมสําหรับผลิตภัณฑ์ไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ ส่วนที่ 2: วิธีทดสอบ Cx: ความร้อนชื้นคงที่ของไอน้ําแรงดันสูงไม่อิ่มตัว
IEC60068-2-66-1994 การทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม ส่วนที่ 2-66: วิธีทดสอบ ทดสอบ Cx: คงที่ damp ความร้อน
JESD22-A100 อายุการใช้งานชดเชยอุณหภูมิและความชื้นแบบวนรอบ
JESD22-A101 อุณหภูมิคงที่ ความชื้น/อคติ การทดสอบอายุการใช้งาน (อุณหภูมิ ความชื้น อายุการใช้งานอคติ)
JESD22-A102 การทดสอบการปรุงอาหารด้วยแรงดันสูง (ความต้านทานการซึมผ่านของความชื้นแบบเร่ง)
JESD22-A108 อุณหภูมิ แรงดันไฟฟ้าอคซีน และอายุการใช้งาน
JESD22-A110 HAST การทดสอบความเครียดของอุณหภูมิและความชื้นแบบเร่งสูง
JESD22-A118 อุณหภูมิและความชื้นการทดสอบความเครียดแบบเร่งสูงที่เป็นกลาง UHAST (แรงดันไฟฟ้าที่เป็นกลางไอน้ําแรงดันสูงไม่อิ่มตัว)
คุณสมบัติของผลิตภัณฑ์:
1. ผลิตภัณฑ์รวมฟังก์ชันอุณหภูมิและความชื้นสูง 85 °C / 85% RH, 95 °C / 95% RH, CT และ HAST
2. เวลาทดลองที่ยาวนานเป็นพิเศษอุปกรณ์สามารถทํางานได้อย่างต่อเนื่องเป็นเวลา 400+ ชั่วโมง
3. ติดตั้งขั้วอคติ (สกรูนําไฟฟ้า M6: แรงดันไฟฟ้า 0 ~ 380V; แรงดันไฟฟ้าสูงสุด 2000V; กระแส 0 ~ 100A)
4. โหมดไอเสียเร็วอากาศเย็นหมดก่อนการทดสอบ การออกแบบไอเสียอากาศเย็นระหว่างการทดสอบ (ไอเสียในถังทดสอบ) ช่วยเพิ่มความเสถียรของแรงดันและความสามารถในการทําซ้ํา
