ห้องทดสอบอายุ

ห้องทดสอบอายุ

เครื่องทดสอบการยึดติด Push-Pull แพ็คเกจ LED
เครื่องทดสอบการยึดติด Push-Pull แพ็คเกจ LED
PCB เครื่องทดสอบแบบผลักและดึงตัวอย่างขนาดใหญ่
PCB เครื่องทดสอบแบบผลักและดึงตัวอย่างขนาดใหญ่
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแรงลวดแบบกดดึง
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแรงลวดแบบกดดึง
WBE-9088B / เครื่องตัดชิปแบบกดดึง
WBE-9088B / เครื่องตัดชิปแบบกดดึง
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแรงเฉือนแบบกดดึง
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแรงเฉือนแบบกดดึง
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแบบกดดึงเซมิคอนดักเตอร์
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแบบกดดึงเซมิคอนดักเตอร์
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแบบกดดึง (หกโมดูล)
WBE-9088B / เครื่องทดสอบแบบกดดึง (หกโมดูล)
WBE-LR3 / ห้องทดสอบแรงกระแทกจากความร้อนแบบแยกส่วน
WBE-LR3 / ห้องทดสอบแรงกระแทกจากความร้อนแบบแยกส่วน
WBE-LR3-49L / ห้องช็อตอุณหภูมิแบบกลุ่ม
WBE-LR3-49L / ห้องช็อตอุณหภูมิแบบกลุ่ม
WBE-LR2 / ห้องปั่นจักรยานช็อตความร้อน (สองห้องเคลื่อนที่)
WBE-LR2 / ห้องปั่นจักรยานช็อตความร้อน (สองห้องเคลื่อนที่)
WBE-KS / ห้องทดสอบการปั่นจักรยานอุณหภูมิเชิงเส้น 20 °C
WBE-KS / ห้องทดสอบการปั่นจักรยานอุณหภูมิเชิงเส้น 20 °C
WBE-KS / ห้องทดสอบอุณหภูมิที่เพิ่มขึ้นและลดลงอย่างรวดเร็ว
WBE-KS / ห้องทดสอบอุณหภูมิที่เพิ่มขึ้นและลดลงอย่างรวดเร็ว