โพรบที่มีความแม่นยําเป็นแถวเคลื่อนที่ช้าๆ ภายใต้กล้องจุลทรรศน์ โดยเล็งไปที่ข้อต่อบัดกรีลวดทองบนชิป ซึ่งละเอียดกว่าเส้นผมมนุษย์ ด้วยเสียงกลไกเล็กน้อยแรงดึงที่แม่นยําและควบคุมได้จะถูกนําไปใช้กับข้อต่อบัดกรี 0.02 นิวตันข้อต่อบัดกรียังคงไม่บุบสลาย 0.05 นิวตันข้อต่อบัดกรียังคงแข็งแรง ที่ 0.1 นิวตันเท่านั้นที่ข้อต่อบัดกรีจะแตก
ภายใต้ข้อกําหนดการควบคุมคุณภาพที่เข้มงวดเช่นนี้เครื่องทดสอบแรงผลักดึงได้กลายเป็นอุปกรณ์ทดสอบที่สําคัญที่ขาดไม่ได้ในด้านการผลิตไมโครอิเล็กทรอนิกส์
01 ฟังก์ชั่นหลัก: การออกแบบโมดูลหมุนอัตโนมัติแบบหกในหนึ่งเดียว
คุณสมบัติที่โดดเด่นที่สุดของเครื่องทดสอบแรงกดดึง WBE-9088B คือ การออกแบบโมดูลหมุนอัตโนมัติแบบหกในหนึ่งเดียว การออกแบบที่เป็นนวัตกรรมใหม่นี้ช่วยให้สามารถกําหนดค่าเซ็นเซอร์ประเภทและช่วงต่างๆ ได้พร้อมกัน โดยสลับโดยอัตโนมัติตามความต้องการในการทดสอบโดยไม่ต้องเปลี่ยนเซ็นเซอร์ด้วยตนเอง
การออกแบบนี้ให้ความยืดหยุ่นอย่างที่ไม่เคยมีมาก่อน ผู้ใช้สามารถรวมความสามารถในการทดสอบได้อย่างอิสระตามข้อกําหนดการทดสอบจริง: การกําหนดค่า "3-pull 3-push" (เซ็นเซอร์ความตึงเครียด 3 ตัวและเซ็นเซอร์กด 3 ตัว) การกําหนดค่า "1-pull 5-push" (เซ็นเซอร์ความตึง 1 ตัวและเซ็นเซอร์กด 5 ตัว); หรือแม้แต่การกําหนดค่า "6-push" สําหรับการทดสอบแรงผลักเต็มที่
อุปกรณ์นี้ติดตั้งระบบกล้องจุลทรรศน์ซูม 1-60x ความละเอียดสูงและกล้อง CCD ความละเอียดสูงที่เป็นอุปกรณ์เสริม เพื่อให้มั่นใจว่าผู้ปฏิบัติงานสามารถสังเกตวัตถุทดสอบนาทีได้อย่างชัดเจน ด้วยการเคลื่อนที่ของแกน XY 100 มม. × 100 มม. และการเคลื่อนที่ของแกน Z 75 มม. ความละเอียดสูงถึง 0.1 ไมโครเมตร และความแม่นยําในการวางตําแหน่ง ±5 ไมโครเมตร จึงตรงตามข้อกําหนดการวางตําแหน่งที่แม่นยําของการผลิตไมโครอิเล็กทรอนิกส์
02. การใช้งานที่หลากหลายครอบคลุมสาขาการผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ทั้งหมด
เครื่องทดสอบแรงผลักดึง WBE-9088B มีการใช้งานที่หลากหลายมาก ครอบคลุมสาขาไฮเทคหลายสาขาตั้งแต่เซมิคอนดักเตอร์ไปจนถึงการบินและอวกาศ
ในการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ สามารถทดสอบความแข็งแรงในการยึดเกาะของชิปและบรรจุภัณฑ์ เพื่อให้มั่นใจว่าวงจรรวมจะทํางานได้อย่างเสถียรภายใต้สภาพแวดล้อมต่างๆ ในด้านการผลิตอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์จะใช้เพื่อประเมินความแข็งแรงในการบัดกรีของแผงวงจรและขั้วต่อเพื่อป้องกันไม่ให้ผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์ล้มเหลวเนื่องจากการบัดกรีที่ไม่ดี
ในด้านการบินและอวกาศ สามารถทดสอบความแข็งแรงในการเชื่อมต่อของส่วนประกอบยานอวกาศ เพื่อให้มั่นใจถึงความน่าเชื่อถือของส่วนประกอบที่สําคัญในสภาพแวดล้อมที่รุนแรง อุปกรณ์นี้ยังใช้กันอย่างแพร่หลายในการผลิตยานยนต์เพื่อทดสอบความแข็งแรงในการบัดกรีของชิ้นส่วนยานยนต์ เพื่อให้มั่นใจในความปลอดภัยของระบบอิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์
โดยเฉพาะอย่างยิ่งอุปกรณ์สามารถทําการทดสอบทางกลได้หลายประเภท: การทดสอบแรงดึงของวัสดุยึดติดเช่นตะกั่วสายทองสายทองแดงลวดโลหะผสมสายอลูมิเนียมและแถบอลูมิเนียม การทดสอบการผลักดันของลูกบอลทองคําลูกทองแดงลูกบัดกรีเวเฟอร์ชิปและส่วนประกอบที่ยึดบนพื้นผิว และการทดสอบแรงเฉือนของข้อต่อไมโครบัดกรีส่วนประกอบที่ติดตั้งบนบอลเวเฟอร์ชิปและพื้นผิวและ BGA
03 ข้อได้เปรียบทางเทคนิค แพลตฟอร์มการทดสอบทางกลที่แม่นยําและเชื่อถือได้เครื่องทดสอบแรงผลักดึง WBE-9088B จาก
WBE แสดงให้เห็นถึงประสิทธิภาพทางเทคนิคที่เหนือกว่า โดยให้ชุดข้อมูลจําเพาะทางเทคนิคที่น่าประทับใจ
ความแม่นยําในการทดสอบโดยรวมของอุปกรณ์ถึง ±0.1% ทําให้มั่นใจได้ถึงความน่าเชื่อถือของผลการทดสอบ ด้วยความเร็วแกน XY สูงสุด 7 มม./วินาที และความเร็วแกน Z สูงสุด 10 มม./วินาที เครื่องทดสอบแรงผลักดึง WBE-9088B ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการทดสอบในขณะที่มั่นใจในความแม่นยํา แรงทดสอบแกน Y สูงสุดคือ 200 กก. (ตัวเลือก 500 กก.) และแรงทดสอบแกน Z สูงสุดคือ 20 กก. (ตัวเลือก 50 กก.) ครอบคลุมความต้องการในการทดสอบอย่างเต็มรูปแบบตั้งแต่ข้อต่อบัดกรีขนาดเล็กไปจนถึงส่วนประกอบขนาดใหญ่
อุปกรณ์นี้ใช้เทคโนโลยีการกําหนดตําแหน่งแนวตั้ง VPM และเทคโนโลยีการกําหนดตําแหน่งแบบหมุนอัตโนมัติเพื่อให้แน่ใจว่าโพรบทดสอบอยู่ในตําแหน่งที่ถูกต้องที่จุดทดสอบ ในขณะเดียวกันอุปกรณ์ยังมีฟังก์ชันการป้องกันความปลอดภัยอัจฉริยะเพื่อป้องกันความเสียหายต่ออุปกรณ์หรือตัวอย่างทดสอบอันเนื่องมาจากการทํางานผิดพลาด
Webang ยังได้ออกแบบอุปกรณ์ติดตั้งที่มีความแม่นยําและเครื่องมือทดสอบ (วัสดุสิ้นเปลือง) ต่างๆ สําหรับอุปกรณ์นี้เพื่อให้แน่ใจว่าวัตถุทดสอบที่มีรูปร่างและขนาดต่างกันสามารถแก้ไขได้อย่างปลอดภัยและทดสอบได้อย่างแม่นยํา
04 มาตรฐานที่เข้มงวด ตรงตามมาตรฐานอุตสาหกรรมระดับโลก
เครื่องทดสอบแรงผลักดึง WBE-9088B ปฏิบัติตามข้อกําหนดการทดสอบขององค์กรมาตรฐานระดับโลกที่เชื่อถือได้หลายแห่งอย่างเคร่งครัด เพื่อให้มั่นใจว่าผลการทดสอบได้รับการยอมรับในระดับสากล
อุปกรณ์เป็นไปตามมาตรฐานต่อไปนี้:
แรงเฉือนเศษ: สอดคล้องกับมาตรฐาน MIL-STD-883 และ IPC-TM-650
แรงเฉือนของบอลบัดกรี: สอดคล้องกับมาตรฐาน ASTM-F1269, MIL-STD-883 และ JEDEC JESD22-B116B
แรงเฉือนลูกบอลทอง: สอดคล้องกับมาตรฐาน JEDEC JESD22-B116, JESD22-B117B และ JEITA ET-7409
แรงดึงตะกั่ว/พันธะ: สอดคล้องกับมาตรฐาน MIL-STD-883 และ IPC-TM-650
แรงดึงแบน: สอดคล้องกับมาตรฐาน MIL-STD-883
แรงดึงเศษพลิก: สอดคล้องกับมาตรฐาน JEDEC JESD22-B109
มาตรฐานเหล่านี้ครอบคลุมข้อกําหนดการทดสอบหลักของอุตสาหกรรมไมโครอิเล็กทรอนิกส์ รวมถึงการทดสอบเฉพาะทาง เช่น แรงดึงลูกบอลเย็น/ร้อน และแรงเฉือนเสาทองแดง BGA คุณลักษณะนี้มีความสําคัญอย่างยิ่งสําหรับบริษัทที่ต้องการจัดทํารายงานการทดสอบให้กับลูกค้าต่างประเทศ
05 ข้อมูลจําเพาะและการกําหนดค่า ตอบสนองความต้องการในการทดสอบอย่างครอบคลุม
เครื่องทดสอบแรงผลักดึง WBE-9088B นําเสนอการกําหนดค่าฮาร์ดแวร์ที่สมบูรณ์และโซลูชันเสริมที่ยืดหยุ่นเพื่อตอบสนองความต้องการเฉพาะของผู้ใช้ที่แตกต่างกัน
เกี่ยวกับเซ็นเซอร์ อุปกรณ์มีช่วงการวัดหลายช่วง:
- เซ็นเซอร์ทดสอบแรงผลักดัน: 10 ข้อมูลจําเพาะตั้งแต่ 250g ถึง 500kg
- เซ็นเซอร์ทดสอบแรงตึงเครียด: 10 ข้อมูลจําเพาะตั้งแต่ 25g ถึง 50kg
- เซ็นเซอร์ทดสอบแรงดึงออก: 6 ข้อมูลจําเพาะตั้งแต่ 100g ถึง 20kg
- เซ็นเซอร์ทดสอบแรงดันลง: 6 ข้อมูลจําเพาะตั้งแต่ 100g ถึง 50kg
การกําหนดค่านี้ครอบคลุมความต้องการในการทดสอบอย่างเต็มรูปแบบ ตั้งแต่การยึดติดไมโครไวร์ไปจนถึงบรรจุภัณฑ์ BGA ขนาดใหญ่
ในส่วนของระบบซอฟต์แวร์ อุปกรณ์มาพร้อมกับคอมพิวเตอร์ในตัว ติดตั้งระบบปฏิบัติการ Windows 11 ไว้ล่วงหน้า พร้อมหน้าจอแสดงผล และมีความสามารถในการบันทึกและส่งออกข้อมูลแบบเรียลไทม์ อํานวยความสะดวกในการวิเคราะห์ข้อมูลและสร้างรายงานสําหรับผู้ใช้
อุปกรณ์นี้ยังรองรับการดูดซับสูญญากาศสําหรับการตรึงตัวอย่าง (แหล่งจ่ายสุญญากาศ 550 มม. ปรอท) และต้องใช้อากาศอัด 4.5~6 บาร์เป็นแหล่งพลังงาน เพื่อให้มั่นใจถึงเสถียรภาพของกระบวนการทดสอบ
ด้วยการสร้างและจัดเก็บข้อมูลการทดสอบแบบเรียลไทม์สายการป้องกันคุณภาพสําหรับชุดผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์จึงแข็งแกร่งขึ้นอย่างมองไม่เห็น ตั้งแต่อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์สําหรับผู้บริโภคไปจนถึงการบินและอวกาศตั้งแต่ไฟ LED ไปจนถึงการสื่อสารด้วยแสงเครื่องทดสอบแรงผลักดึงหกโมดูลนี้ช่วยปกป้องความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ทั่วโลก